原子吸收分光光度計基于原子對特定波長光的吸收特性實現(xiàn)元素定量分析。其核心原理為：當空心陰極燈發(fā)射出待測元素的特征譜線（如銳線光譜）時，光束通過高溫原子化器中被氣化的基態(tài)原子蒸氣，基態(tài)原子吸收特定波長的光發(fā)生能級躍遷，未被吸收的光經(jīng)分光系統(tǒng)分離后由檢測器測量強度變化。根據(jù)朗伯-比爾定律，吸光度與基態(tài)原子濃度成正比，通過標準曲線法即可確定樣品中元素的含量。
在復(fù)雜樣品分析中，背景吸收（如分子散射、顆粒物吸收）會干擾目標元素的測定，需通過背景校正技術(shù)消除。塞曼背景校正技術(shù)利用磁場分裂譜線實現(xiàn)背景扣除，其原理為：在原子化器或光源處施加強磁場，使原子吸收線分裂為平行（π組分）和垂直（σ±組分）于磁場的偏振光。平行偏振光可被原子吸收和背景吸收共同作用（總吸收），而垂直偏振光僅產(chǎn)生背景吸收（原子不吸收垂直偏振光）。通過旋轉(zhuǎn)偏振器交替測量兩種偏振光信號，計算總吸收與背景吸收的差值，即可消除背景干擾。
塞曼校正技術(shù)具有全波長適用性、基線穩(wěn)定性強等優(yōu)勢，尤其適用于高鹽類樣品和痕量元素分析。然而，其靈敏度可能因磁場分裂而略有損失，且對磁場強度控制要求較高。部分儀器采用三磁場塞曼技術(shù)，通過引入中間磁場強度優(yōu)化校正，擴展動態(tài)線性范圍，彌補傳統(tǒng)方法的不足。實際應(yīng)用中，塞曼校正與氘燈校正、自吸收校正等技術(shù)互補，共同提升原子吸收光譜分析的準確性和可靠性。
